Alternant ST/LETI - Métrologie dimensionnelle par diffusion de rayons X M/F
STMicroelectronics
Crolles, France
il y a 1j

Job description

Le sujet d’alternance porte sur la mise en oeuvre de la technique de diffusion de rayons X (SAXS) sur des structures constituées de réseau périodique de nanostructures afin d’en établir de façon juste les caractéristiques morphologique et dimensionnelles.

Cette technique nécessite actuellement l’utilisation de faisceau synchrotron ou de source de rayon X optimisée disponible dans peu de laboratoires.

Le besoin industriel est de réaliser des échantillons calibrés par cette technique à des fins de raccordement de justesse pour satisfaire aux exigences normatives.

Rattaché au groupe de Métrologie de STMicroelectronics à Crolles, le candidat sera également intégré au sein du service de Caractérisation Physique de LETI (MINATEC).

Le candidat(e) devrait tout d'abord s'assurer de la bonne configuration géométrique des structures qui ont été réalisées au LETI.

Il sera ensuite amené à les caractériser et à les mesurer sur les équipements industriels de la salle blanche de ST qui mettent en oeuvre la microscopie électronique et la diffusion optique (scattérométrie).

Ces mêmes structures seront ensuite analysées par CD-SAXS au LETI. Avec l’appui du service Qualité, Le candidat devra établir le protocole de raccordement et proposer une documentation de type certification d’étalons secondaires.

Ces étalons pourront ainsi servir de reference pour plusieurs sites industiels de ST à travers le monde.

Profile

Ce sujet nécessite un gout pour l’expérimentation et une bonne compréhension des techniques de caractérisation avancée. le candidat(e) devra faire prendre d'autonomie et d'initiatives et savoir bien communiquer avec les multiples interlocuteurs.

L’alternance devra établir un pont entre les besoins industriels et les techniques de laboratoire avancées.

Candidate criteria

Education level required

4 - Bachelor degree

Experience level required

Languages

English (3- Advanced)

01 / 09 / 2020

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